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倒置金属分析显微镜 IE200M
倒置金属分析显微镜 IE200M

产品型号:IE200M
发布时间:2017-12-15 16:30:14
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IE200M 介绍

倒置金属分析显微镜IE200M

操作简便,附件齐全,广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地址矿物分析、精密工程测量等领域。

高精度粗微动调焦机构

采用底手位粗微调同轴调焦机构,左右侧均可调节,微调精度高,手动调节简单方便,用户能够轻松得到清晰舒适的图像。粗调行程为38mm,微调精度0.002

大尺寸机械移动平台

采用180×155mm的大尺寸平台,右手位设置,符合常规人群操作习惯。用户操作过程中,便于调焦机构与平台移动的操作切换,为用户提供更加高效的工作环境。

落射柯拉照明系统

落射式柯拉照明系统,带可变孔径光栏和中心可调视场光栏,自适应宽电压100V-240V,6V30W卤素灯,光强连续可调。

技术规格


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