芯片失效分析

芯片分析，找专用芯片分析显微镜哦。今天小编简单和大家说说芯片失效分析。

芯片失效分析主要是为了将失效原因找出，并及时采取有效措施，以避免造成更大的损失。芯片失效分析过程中，需要用到许多仪器，金相显微镜就是其中一款，它主要检查内容如下：

1、制备样片的金相显微镜分析。

2、各种缺陷的查找。

3、样品外观、形貌检测。

好的芯片失效分析显微镜不仅能快速检测芯片失效原因，还有利于用户产品质量及可靠性提高，提高用户经济效益，同时失效分析也是仲裁失效事故，开展技术保险业务及对外贸易索赔的重要仪器等等。总之芯片失效分析显微镜应用尤为广泛，小编就不在此一一列举了，详情大家可直接电话咨询我们。

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